產(chǎn)品介紹

JK2818自動元件分析儀

測試電平10mV～2V,10mv步進(jìn)                  
高達(dá)80次/s的測量速度
六位讀數(shù)分辨率                             
內(nèi)部自帶直流偏置源
圖形掃描分析功能                           
內(nèi)建比較器,10檔分選及計數(shù)功能
測試頻率20Hz～1MH*有8600個以上的測試頻率                         
基本準(zhǔn)確度0.1%
320×240點陣大型圖形LCD顯示                
10點列表掃描測試功能
外置偏流源至40A(配置兩臺JK1775)            
V、I測試信號電平監(jiān)視功能
20組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲存/讀取              
多種通訊接口方便用戶聯(lián)機(jī)使用
全英文操作界面

JK2818自動元件分析儀

簡要說明:

JK2818高頻自動元件分析儀其0.1%的基本精度、20Hz～1MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
JK2818高頻自動元件分析儀產(chǎn)品超高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點檢機(jī)，壓電器件的頻率響應(yīng)曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應(yīng)各個電感變壓器廠家的不同標(biāo)準(zhǔn)需求。JK2818型產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。
技術(shù)規(guī)格:

列表掃描功能

簡要介紹:
JK2818高頻自動元件分析儀是采用當(dāng)前zuixianjin的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達(dá)100 MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，
特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40A直流偏置的高功率測試條件及列表
掃描功能將有利于用戶擴(kuò)展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
JK2818高頻自動元件分析儀是電子元件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。計算機(jī)通訊及測試過程記錄提供了條件。

廣泛的測量對象：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。

多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
JK2818高頻自動元件分析儀的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以地分析磁性材料、電感器件的性能。使用JK10301選件的100mA DC的偏置電流可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用JK1775電流疊加裝置，可使偏置電流達(dá)40A以分析高功率、大電流電感器件。

的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。

液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是大測試電壓不夠。使用JK10301選件可提供分辨率為1%及高達(dá)20Vms的可編程測試信號電平，使它能在佳條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測量。

半導(dǎo)體材料和元件的測量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。
20HZ－1MHz的測量頻寬及高達(dá)40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至小。各種二極管、三機(jī)管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內(nèi)容。

適應(yīng)多種領(lǐng)域的測試需要 提高生產(chǎn)效率

 JK2818高頻自動元件分析儀　30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。內(nèi)建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。
應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗手段
儀器具備的20Hz-1MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。
JK10301及JK1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。

用戶友好的操作界面簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果，各種設(shè)定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設(shè)置
JK2818高頻自動元件分析儀提供有內(nèi)部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設(shè)置，
 
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
JK2818高頻自動元件分析儀為多機(jī)通訊并組成自動測試系統(tǒng)提供了可能，同時，
儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機(jī)進(jìn)行遠(yuǎn)程通訊。